通常我們指的是氧化鋯探頭的老化，主要是在增加內阻和背景電位這兩項上：
（1）增加內阻 在實際應用中，探頭老化引起的內阻增大。內阻是指信號線兩端之間的輸入電阻。它是引線電阻、電極與氧化鋯之間的界面電阻和氧化鋯的體積電阻的總和。因此，電極揮發、電極脫落以及氧化鋯電解質（從穩定氧化鋯到不穩定氧化鋯）的不穩定性將導致內阻增加。氧化鋯探頭的老化可以通過測量探測器的內部電阻來判斷。根據經驗，當內阻增加到其使用極*，就會出現大信號跳躍現象，有的反應為慢響應現象。對于這些氧化鋯探頭，背景電位未必大。 （2）背景電位增加 背景電勢是電池的附加電勢。引起背景電位升高的因素有兩個：一是*因素，寄生在電池上，如SO2、SO3腐蝕、電池不對稱等；二是暫時因素，如電極灰分、空氣對流差等。再改進，可以降低背景電位。 背景電位的增加往往反映了氧化鋯探頭的老化程度。當E0值超過分析儀的大調節值時，鋯探頭已被損壞。 例如： 氧化鋯，E0為-5MV，制造時，其允許范圍為0～30MV。使用六個月后，它變成-13mV；使用18個月后，它變成：-29mV；這表明探測器老化，需要更換。應該注意的是，一些探測器的老化表現在背景電位增加，而有些氧化鋯探頭雖然老化，但沒有這種現象，所以我們需要認真分析。當背景電勢由于臨時因素而增加時，隨著時間的流逝，可能出現背景電勢先增加后減小。 隨著背景電勢的增加，探針老化的數量小于內阻的數量增加。簡單的背景增大，一般不會有大的信號脈動現象。 |
